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SN74BCT8373ADWRE4

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Artikelnummer
SN74BCT8373ADWRE4
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
SN74BCT8373ADWRE4.pdf
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Erfrischungspreis
(In US-Dollar)
1Stck
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Artikelnummer
SN74BCT8373ADWRE4
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Teilestatus
Obsolete
Logiktyp
Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits
8
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Befestigungsart
Surface Mount
Paket / fall
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package
24-SOIC

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