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SN74ABT18652PM

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Artikelnummer
SN74ABT18652PM
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
SN74ABT18652PM.pdf
Gesamt:$19.89000
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Erfrischungspreis
(In US-Dollar)
1Stck
$19.89000

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Artikelnummer
SN74ABT18652PM
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Teilestatus
Active
Logiktyp
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits
18
Betriebstemperatur
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart
Surface Mount
Paket / fall
64-LQFP
Supplier Device Package
64-LQFP (10x10)

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